数字技术与应用杂志社

摘要：<正>为降低IC测试成本，压缩测试数据量是一种非常有效的解决途径。首先依据元胞自动机产生的随机向量数组，通过穷举法寻找测试集处理的最佳变换规则，把原始测试集拆分为主分量集和残存集两部分，其中主分量集可由元胞自动机生成，随后对残存集采用VariableTail编码进行压缩。实验结果表明，所提方案与传统编码压缩方法及其优化方案相比，具有更高的平均压缩率，且对无关位较少、复杂度较高电路的压缩效果更加明显。当前集成电路（IC）测试面临的最大挑战之一是测试数据量的规模庞大，尤其是随着芯片研发和迭代升级速度的加快，以及制作工艺水平的不断提升，

基金资助： 大学生创新创业训练计划项目（202210347053）； 湖州市公益重点项目（2019GZ10）；

DOI： 10.19695/j.cnki.cn12-1369.2024.01.01

专辑： 信息科技

专题： 计算机软件及计算机应用

分类号： TP301.1